DVS Forschungsvereinigung, Band: 270

IGF-Nr.: 17.405N / Einfluss des Lotpastendrucks auf die Zuverlässigkeit der Lötstellen kritischer keramischer SMD-Komponenten auf FR4-Leiterplatten

Artikel-Nr.: 170379

ISBN: 978-3-96870-269-8

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Produktinformationen

Häufig werden auf elektronisichen Baugruppen kritische, keramische SMD-Bauelemente, z.B. Quarze, eingesetzt. Diese Komponenten sind hinsichtl. ihres Ausdehnungsverhaltens bezogen auf ihren Träger nicht angepasst. Dieser CTE-Mismatch führt insb. bei Keramikkomponenten größerer Dimensionen zu vergleichsweise frühen Ausfällen bei Temperaturwechselblastung. Das Ausfallverhalten ist typischerweise in Form von Lötstellenermüdung zu beobachten.
Ziel des Vorhabens ist, den Einfluss des Lotpastendrucks auf die Zuverlässigkeit der Lötstellen kritischer keramischer Bauelemente auf Leiterplatten zu untersuchen. Das ermöglicht die Festlegung von Prozessgrenzen um den Druckprozess zu stabilisieren.
Zwei Ansätze sollen hier verfolgt werden.
1.Bei kleinen keramischen Komponenten (Baugröße 0201 und 01005) ist die Anforderung an den Lotpastendruckprozess eine Mindestmenge an Lot auf das Leiterplattenpad zu übertragen. Es soll eine Untergrenze des nötigen Lotvolumens definiert werden. Diese kann dann als Eingriffgrenze in die Überwachung des Lotpastendruckprozesses übernommen werden.
2.Bei großen keramischen Komponenten ist eine Erhöhung des Lotspaltes vorteilhaft für die Lebensdauer der Lötstellen. Hier soll der Zusammenhang zwischen (zusätzlicher) Lotmenge und Lebensdauer untersucht werden. Daraus sollen Empfehlungen für die Applikation von Zusatzlot abgeleitet werden.
Die Sicherstellung einer gleichmäßigen Qualität von gedruckten Lotpastendepots reduziert die Fehlerrate im Fertigungsprozess.  Die Qualität der gefertigten Produkte steigt und es ist eine erhöhte Zuverlässigkeit der Produkte zu erwarten. Dies erhöht die Wertschöpfung im Produktionsprozess und festigt die Marktposition insbesondere von KMU bei einem vergleichsweise geringen Investitionsaufwand. Eine Umsetzung innerhalb von max. 1-3 Jahren wird erwartet.

ISBN
978-3-96870-269-8
Reihe
DVS Forschungsvereinigung,
Band
Band: 270
Erscheinungsdatum
Oktober 2014
Bindung
E-Book im PDF Format
Seiten
108
 
 
 
 

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