IGF-Nr.: 13.511N / Entwicklung von Prüfstrukturen für die Kalibrierung und den Leistungsvergleich automatischer optischer Inspektionssysteme in der Fertigung elektronischer Baugruppen

Produktinformationen

Ziel des Vorhabens ist die Entwicklung, Herstellung und Erprobung zwei- und dreidimensionaler Prüfmuster mit reproduzierbarer Gestalt und Oberfläche zur Kalibrierung unterschiedlicher automatischer optischer Inspektionssysteme (AOI) in der Fertigung elektronischer Baugruppen unabhängig von Golden Boards. Diese Muster sollen Lotpastendepots und SMD-Lötstellen einschließlich einzelner Fehlererscheinungen praxisgerecht simulieren und damit die Erkennung von Sollzustand und Fehlermuster prüfbar machen. Dabei soll eine möglichst große Bandbreite verschiedener Systeme berücksichtigt werden, d. h. es sollen Prüfstrukturen für Maschinenlösungen mit rein senkrechter Blickrichtung bei niedriger Bildauflösung genauso einbezogen werden wie Schrägbeleuchtung und Schrägbetrachtung und Hochauflösung. Die Anstrengungen, solche AOI-Systeme in ihren Parametern und vor allem Taktzeiten zu verbessern, sind bei Geräteherstellern und bei großen IC- und Systemherstellern beträchtlich.
Anwendungsmöglichkeiten für die Kalibrierproben und deren wirtschaftliche Bedeutung liegen in der Beschaffungsphase von AOIs, z. B. für den Vergleich von auf dem Markt angebotenen Geräten, ferner zum Abgleich von vorhandenen, unterschiedlichen AOIs in derselben Fertigung sowie bei der Kalibrierung neu hinzukommender Systeme und der regelmäßigen Überprüfung von AOls hinsichtlich Fehlfunktion, Leistungsänderung und Verschleiß. Aus der Tatsache, dass AOls traditionell in kleinen und mittleren Unternehmen (kmU) hergestellt und/oder zunehmend von kmU eingesetzt werden, ergibt sich die besondere wirtschaftliche Bedeutung des Forschungsthemas für kmU.
Der Transfer der Ergebnisse erfolgt über die im projektbegleitenden Ausschuss vertretenden Unternehmen sowie über die üblichen Maßnahmen wie Publikation der Resultate in Fachaufsätzen, Konferenzen, Arbeitskreisen und Seminaren.

ISBN

978-3-96870-064-9

Reihe

DVS Forschungsvereinigung,

Band

Band: 65

Erscheinungsdatum

Juli 2005

Bindung

E-Book im PDF Format

Seiten

36